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  • Source: Materialia. Unidades: IQ, IFSC, IF

    Subjects: LUMINESCÊNCIA, TERRAS RARAS, RADIAÇÃO SINCROTRON, REAGENTES, TECNOLOGIA DE MICRO-ONDAS

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      MERÍZIO, Leonnam Gotardo et al. Toward an energy-efficient synthesis method to improve persistent luminescence of Sr2MgSi2O7:Eu2+,Dy3+ materials. Materialia, v. 20, p. 101226-1-101226-10, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mtla.2021.101226. Acesso em: 16 maio 2024.
    • APA

      Merízio, L. G., Bonturim, E., Ichikawa, R. U., Silva, I. G. N. da, Teixeira, V. C., Rodrigues, L. C. V., & Brito, H. F. de. (2021). Toward an energy-efficient synthesis method to improve persistent luminescence of Sr2MgSi2O7:Eu2+,Dy3+ materials. Materialia, 20, 101226-1-101226-10. doi:10.1016/j.mtla.2021.101226
    • NLM

      Merízio LG, Bonturim E, Ichikawa RU, Silva IGN da, Teixeira VC, Rodrigues LCV, Brito HF de. Toward an energy-efficient synthesis method to improve persistent luminescence of Sr2MgSi2O7:Eu2+,Dy3+ materials [Internet]. Materialia. 2021 ; 20 101226-1-101226-10.[citado 2024 maio 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mtla.2021.101226
    • Vancouver

      Merízio LG, Bonturim E, Ichikawa RU, Silva IGN da, Teixeira VC, Rodrigues LCV, Brito HF de. Toward an energy-efficient synthesis method to improve persistent luminescence of Sr2MgSi2O7:Eu2+,Dy3+ materials [Internet]. Materialia. 2021 ; 20 101226-1-101226-10.[citado 2024 maio 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mtla.2021.101226
  • Source: Materials Science Forum. Unidade: IQ

    Subjects: NANOTUBOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X

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    • ABNT

      FARIA, Marcela E. M et al. Thickness estimation of TiO2-Based nanotubes using X-Ray diffraction techniques. Materials Science Forum, v. 1012, p. 179-184, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.1012.179. Acesso em: 16 maio 2024.
    • APA

      Faria, M. E. M., Leite, M. M., Ichikawa, R. U., Vichi, F. M., Turrillas, X., & Martinez, L. G. (2020). Thickness estimation of TiO2-Based nanotubes using X-Ray diffraction techniques. Materials Science Forum, 1012, 179-184. doi:10.4028/www.scientific.net/MSF.1012.179
    • NLM

      Faria MEM, Leite MM, Ichikawa RU, Vichi FM, Turrillas X, Martinez LG. Thickness estimation of TiO2-Based nanotubes using X-Ray diffraction techniques [Internet]. Materials Science Forum. 2020 ; 1012 179-184.[citado 2024 maio 16 ] Available from: https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.1012.179
    • Vancouver

      Faria MEM, Leite MM, Ichikawa RU, Vichi FM, Turrillas X, Martinez LG. Thickness estimation of TiO2-Based nanotubes using X-Ray diffraction techniques [Internet]. Materials Science Forum. 2020 ; 1012 179-184.[citado 2024 maio 16 ] Available from: https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.1012.179
  • Unidade: IPEN

    Subjects: CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, CRISTALOGRAFIA ESTRUTURAL, CRISTALOGRAFIA FÍSICA, ESPALHAMENTO, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ESTUDOS ANALÍTICOS

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    • ABNT

      ICHIKAWA, Rodrigo Uchida. Investigação da estrutura local e média de nanopartículas por técnicas de espalhamento e difração de raios X. 2018. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2018. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-15062018-083316/. Acesso em: 16 maio 2024.
    • APA

      Ichikawa, R. U. (2018). Investigação da estrutura local e média de nanopartículas por técnicas de espalhamento e difração de raios X (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-15062018-083316/
    • NLM

      Ichikawa RU. Investigação da estrutura local e média de nanopartículas por técnicas de espalhamento e difração de raios X [Internet]. 2018 ;[citado 2024 maio 16 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-15062018-083316/
    • Vancouver

      Ichikawa RU. Investigação da estrutura local e média de nanopartículas por técnicas de espalhamento e difração de raios X [Internet]. 2018 ;[citado 2024 maio 16 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-15062018-083316/
  • Unidade: IPEN

    Subjects: CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, MICROFORMAS, QUÍMICA ANALÍTICA, SOFTWARE ESTATÍSTICO PARA MICROCOMPUTADORES

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    • ABNT

      ICHIKAWA, Rodrigo Uchida. Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração. 2013. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2013. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/. Acesso em: 16 maio 2024.
    • APA

      Ichikawa, R. U. (2013). Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/
    • NLM

      Ichikawa RU. Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração [Internet]. 2013 ;[citado 2024 maio 16 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/
    • Vancouver

      Ichikawa RU. Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração [Internet]. 2013 ;[citado 2024 maio 16 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/

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